機(jī)器視覺(jué)光源按照波長(zhǎng)分類可以分為可見(jiàn)波長(zhǎng)光源，特殊波長(zhǎng)光源。可見(jiàn)波長(zhǎng)光源也就是現(xiàn)代工業(yè)機(jī)器視覺(jué)中最常用的紅綠藍(lán)LED光源。特殊波長(zhǎng)光源一般是指紅外或紫外波長(zhǎng)光源，一些特殊材料在可見(jiàn)光范圍內(nèi)吸收差別不大。
灰階變化不明顯時(shí)可以考慮采用特殊波長(zhǎng)光源，比如說(shuō)利用紫外光能量高可以激發(fā)熒光材料的原理，檢測(cè)具有熒光發(fā)光特性物質(zhì)微殘留時(shí)紫外光源就是一種比較有效的手段，因材料成分與紅外光譜有對(duì)應(yīng)關(guān)系的原理，紅外光源對(duì)不具有發(fā)光性質(zhì)的有機(jī)化合物殘留缺陷檢出就有很大的作用，甚至可以實(shí)現(xiàn)成分分析。
特殊光源中，利用偏振光與物體相互作用后偏振態(tài)的變化，利用光學(xué)干涉原理的白光干涉在特定缺陷檢測(cè)中的得到了應(yīng)用，例如通過(guò)相干光的干涉圖案計(jì)算出對(duì)應(yīng)的相位差和光程差，可以測(cè)量出被測(cè)物體與參考物體之間的差異，且分辨率與精度為可以達(dá)到亞波長(zhǎng)，測(cè)量三維物體形貌與高度也正成為機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)的新需求。
同軸光源的燈源排列密度高，亮度高且均勻，能夠凸顯物體表面不平整，克服表面反光造成的干擾，主要用于檢測(cè)物體平整光滑表面的碰傷、劃傷、裂紋和異物。 同軸光基本是紅、綠、藍(lán)三色光源，也可以是不同波長(zhǎng)光源的任意組合。
側(cè)光源與同軸光源的平行照射理念正好相反，低角度光源從很小的角度將光線直接照射到被檢測(cè)物體上。由于光的方向幾乎與物體表面平行，物體表面高度的任何變化都會(huì)改變反射光到光電傳感器的光路，從而突出變化，適合有一定高度的缺陷物檢出。
側(cè)光源的角度與高度變化時(shí)，有一定高度的被檢出物體的強(qiáng)反射面(陽(yáng)面)和弱反射面(陰面)的角度和反射光強(qiáng)度都會(huì)有變化。為檢出結(jié)果的判定提供了豐富的信息。背光源的原理則是利用被檢測(cè)物體中不同部分光透過(guò)率差異實(shí)現(xiàn)檢出的方法，硬件上與其他光源的擺放位置不同，光源不與光電傳感器同側(cè)，而是置于光電傳感器的對(duì)面，接受被檢測(cè)物體透過(guò)光的強(qiáng)弱，適合被檢測(cè)物體中有缺失部分檢出。
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