一、檢測內(nèi)容及要求
檢測內(nèi)容： 外觀、尺寸檢測
| 序號 | 檢測位置 | 檢測方式 | 是否可檢 |
| 1 | 毛邊、內(nèi)孔渣渣 | 頂部正光檢測 | 可檢 |
| 2 | 缺口 | 頂部正光檢測 | 可檢 |
| 3 | 尺寸內(nèi)外徑檢測 | 頂部背光檢測 | 可檢 |
注明：以上檢測項目，均需在影像下清晰可見才能檢測。
檢測效率：每分鐘檢測數(shù)量250件(取決于產(chǎn)品送料速度)。
檢測準(zhǔn)確率：檢后良品率≥99.99%。
不良品剔除：可針對不良種類進行分揀。
樣品圖
二、設(shè)備組成及主要機構(gòu)
設(shè)備型號：SP-T300 外形尺寸：900*800*1850mm
組成部件清單：
| 序號 | 名稱 | 規(guī)格型號 | 單位 | 數(shù)量 |
| 1 | 視覺檢測軟件 | Sipotek | 套 | 1 |
| 2 | 工業(yè)電腦 | 研祥sipotek定制 | 套 | 1 |
| 3 | 液晶顯示器 | Philips 19” | 臺 | 1 |
| 4 | 工業(yè)相機 | Basler acA1300-60gm | 臺 | 3 |
| 5 | 工業(yè)鏡頭 | FA工業(yè)鏡頭 500w像素 | 臺 | 2 |
| 6 | 工業(yè)鏡頭 | 定焦遠心鏡頭 500w像素 | 臺 | 1 |
| 7 | 玻璃轉(zhuǎn)盤 | 無色光學(xué)玻璃 | 件 | 1 |
| 8 | 電磁閥 | MAC兩位三通電磁閥 | 套 | 1 |
| 9 | 伺服電機 | 松下 MHMF042L1U2M | 套 | 1 |
| 10 | 振動盤及上料機構(gòu) | Sipotek定制 | 套 | 1 |
| 11 | 振動柜 | Sipotek定制 | 套 | 1 |
三、設(shè)備外觀圖
四、樣件測試圖片:
1.低部正光檢測原圖：
四、樣件測試圖片:
1.低部正光檢測原圖：
2.底部正光檢測分析圖：OK
3.底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：孔內(nèi)渣渣 分析結(jié)果：可檢
4.底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：缺口 分析結(jié)果：可檢
5.底部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：毛邊 分析結(jié)果：可檢
6.頂部正光檢測原圖：
7.頂部正光檢測分析圖：OK
8.頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：孔內(nèi)渣渣 分析結(jié)果：可檢
9.頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：缺口 分析結(jié)果：可檢
10.頂部正光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：毛邊 分析結(jié)果：可檢
11 .頂部背光光檢測原圖：
12 頂部背光檢測分析圖：OK
13.頂部背光檢測不良品分析圖：NG 不良特征：尺寸不良 分析結(jié)果：可檢
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