| 序號 | 檢測位置 | 檢測方式 | 是否可檢 |
| 1 | 字體粗 | 正光檢測 | 可檢 |
| 2 | 砂眼 | 正光檢測 | 可檢 |
| 3 | 絲印殘留 | 正光檢測 | 可檢 |
深圳思普泰克研發(fā)的全自動外觀缺陷檢測設(shè)備檢測項目,均需在影像下清晰可見才能檢測。檢測效率:每分鐘檢測數(shù)量 不低于120件(取決于產(chǎn)品送料速度)。

| 序號 | 部件名稱 | 規(guī)格型號 | 數(shù)量 |
| 1 | 視覺檢測軟件 | SIPOTEK | 1套 |
| 2 | 工業(yè)電腦 | SIPOTEK定制 | 1套 |
| 3 | 顯示器 | PHILIPS 19”液晶顯示器 | 1臺 |
| 4 | 工業(yè)相機 | SONY工業(yè)相機 | 1套 |
| 5 | 相機調(diào)節(jié)模組 | SIPOTEK定制 | 1套 |
| 6 | 工業(yè)鏡頭 | FA高清光學(xué)工業(yè)鏡頭 | 1套 |
| 7 | 光源 | 定制光學(xué)自適應(yīng)光源 | 1套 |
| 8 | 檢測平臺 | SIPOTEK定制框架 | 1套 |


頂部正光檢測良品分析圖:OK

頂部正光檢測不良品分析圖:NG 不良特征:字體粗

頂部正光檢測不良品分析圖:NG 不良特征:砂眼

頂部正光檢測不良品分析圖:NG 不良特征:劃痕

四、全自動外觀缺陷檢測設(shè)備安裝要求:
咨詢熱線:199 2663 8782(黃經(jīng)理)